나일론 칩
원료 테스트, 성분 테스트, 생산 과정 중 일반 검사를 포함합니다.
칩의 수량 지수: 상대 점도(N.s/m2), 수분(ppm), 아미노(mmol/kg), TiO2(%), 산화(%).
나일론 원사
필터링은 원사 표면의 꼬리를 제거하는 것입니다.
외관검사, 밸런스룸의 원사를 예비심사하여 라벨정보가 원사와 일치하는지 확인합니다.
테스트 항목 : 보풀, 코일, 넘어짐, 색상, 스크래치, 기름, 성형, 무게, 종이 튜브.
물리적 검사
시험항목 : 데니어, 파단강도, 신율, 원사 불규칙성, OPU%, BWS%, 네트워크, 변동계수(CV%)
Uster 시험 (시험기 : Uster Tester 5-C800)
스판덱스
스판덱스의 경우 외관검사와 실험실 검사를 진행합니다. 외관검사는 위에서 언급한 나일론 시험단계와 동일합니다. 실험실 테스트의 범위는 다음과 같습니다.
| 정적 인장 특성 | 동적 신장 |
| 요구 | 데니어 |
| DMIC | 내염소성 |
| 교차 구역 | 머릿단 |
| 부착 | 오일 함량 |
| 건조하고 습한 환경에서의 안정성 | BWS |
외관검사
데니어 테스트
스타터 테스터 5-C800
짠 양말